激光测厚仪一般是由两个激光位移传感器上下对射的方式组成的,上下的两个传感器分别测量被测体上表面的位置和下表面的位置,通过计算得到被测体的厚度。激光测厚仪的优点在于它采用的是非接触的测量,相对接触式测厚仪更,不会因为磨损而损失精度。相对超声波测厚仪精度更高。相对X射线测厚仪没有辐射污染。
薄膜测厚仪主控制柜是一个自由立式控制台,是个系统的心脏。根据产品型号、控制系统配置不同,P型采用S7-400PLC作为控制计算中心;G型采用工控机为控制计算中心。控制柜负责采集和处理从前置放大器传来的信号,负责测厚仪数据处理和与轧机AGC系统的接口信号输出,为轧机AGC系统提供测厚数据及控制信号。控制柜还提供整个系统稳定的电源和现场显示器的显示数据。
薄膜测厚仪由于工作现场环境复杂,系统工作一段时间后由于各种因素的干扰,系统会产生基准漂移。这时通过系统效验模块可以修复这种漂移,以系统测量的准确性