产品别名 |
薄膜厚度测量仪 |
面向地区 |
全国 |
技术参数: * 检测范围 0--600mm * 钢板温度 0--1200°C * 钢板速度 0--25m/s * 采样时间 优于1ms * 测量精度 动态优于±0.03% * 安装方式 根据要求定制
起初广泛使用的厚度测量工具是卡尺、螺旋测微器、测厚表等,但随着科技的进步、社会的发展,常用的测厚方法有射线测厚法、超声波测厚法、光学测厚法、机械测厚法等,虽然厚度检测方法众多,但从综合程度上看,在线测厚系统更多的还是采用激光测厚仪。
射线测厚仪也能进行在线检测,并且检测精度更高,但劣势也显而易见,它有辐射,不管将其降到多低,但长期使用终究不好,一般仅用于薄板的高精检测。
可广泛用于生产线上对各种材料的厚度、宽度、轮廓的实时测量, 具有非接触测量、不损伤物体表面、无环境污染、抗干扰能力强、精度高、数据采集、处理功能全等特点,已成为我国工业生产线产品质量控制的重要设备。采用激光测量法,连续对被测物进行非接触、无损伤厚度测量,采样速度快精度高,性能稳定,操作简单,可设定测值上下限,超出界限值时主机自动报警。对板材、带材进行非接触、连续、快速在线测量。适用于冷轧带钢、铜、铝和其他金属材质的带材、箔材及玻璃、橡胶等非金属板材厚度测量。并可输出厚差信号,参予闭环调节,实现厚度的自动控制。
本公司生产多种型号和规格的测厚仪,从简单的厚度显示到输出厚调信号参予闭环调节等的测厚仪,实现对各种材质和范围的厚度测量。同时本着质量﹑用户至上的原则,对产品一律上门安装、调试、直到正常运行,提供有关技术资料,培训操作人员。
激光测厚仪一般是由两个激光位移传感器上下对射的方式组成的,上下的两个传感器分别测量被测体上表面的位置和下表面的位置,通过计算得到被测体的厚度。激光测厚仪的优点在于它采用的是非接触的测量,相对接触式测厚仪更,不会因为磨损而损失精度。相对超声波测厚仪精度更高。相对X射线测厚仪没有辐射污染。
两个激光位移传感器的激光对射,被测体放置在对射区域内,根据测量被测体上表面和下表面的距离,计算出被测体的厚度。 的基本组成是激光器、成像物镜、光电位敏接收器、信号处理机测量结果显示系统。激光束在被测物体表面上形成一个亮的光斑,成像物镜将该光斑成像到光敏接收器的光敏上,产生探测其敏感面上光斑位置的电信号。当被测物体移动时,其表面上光斑相对成像物镜的位置发生改变,相应地成像点在光敏器件上的位置也要发生变化
检测头采用电离室和电子前置放大器组成电离室检测头,离子室设计具有大空间,高抗干扰性、高灵敏度等特点。系统备有风冷、油冷恒温冷却单元,延长系统的使用寿命。
薄膜测厚仪由于铝合金板材牌号众多,合金含量各不相同,而X射线对不同合金的吸收率是有差别的,为了弥补这种差别本系统增加了合金补偿功能(此功能类似于全量程标定功能)