产品别名 |
薄膜厚度测量仪,薄膜测厚仪厂家供应,测厚仪器,0.1μm-厂家,自动薄膜测厚仪,厚度测量仪,机械接触式膜厚仪 |
面向地区 |
全国 |
X射线测厚仪利用X射线管通电产生X射线作为信号源,根据X射线穿透被测物时的强度衰减来进行转换检测薄膜的厚度,它的特点是放射物质能量低,无需使用许可证,测量精度高,可测量透明或不透明材料,不受添加剂和色母料的影响,不受环境温度和薄膜抖动影响。
薄膜测厚仪主控制柜是一个自由立式控制台,是个系统的心脏。根据产品型号、控制系统配置不同,P型采用S7-400PLC作为控制计算中心;G型采用工控机为控制计算中心。控制柜负责采集和处理从前置放大器传来的信号,负责测厚仪数据处理和与轧机AGC系统的接口信号输出,为轧机AGC系统提供测厚数据及控制信号。控制柜还提供整个系统稳定的电源和现场显示器的显示数据。
薄膜测厚仪由于工作现场环境复杂,系统工作一段时间后由于各种因素的干扰,系统会产生基准漂移。这时通过系统效验模块可以修复这种漂移,以系统测量的准确性