产品别名 |
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面向地区 |
全国 |
X射线测厚仪利用X射线管通电产生X射线作为信号源，根据X射线穿透被测物时的强度衰减来进行转换检测薄膜的厚度，它的特点是放射物质能量低，无需使用许可证，测量精度高，可测量透明或不透明材料，不受添加剂和色母料的影响，不受环境温度和薄膜抖动影响。
激光测厚仪一般是由两个激光位移传感器上下对射的方式组成的，上下的两个传感器分别测量被测体上表面的位置和下表面的位置，通过计算得到被测体的厚度。激光测厚仪的优点在于它采用的是非接触的测量，相对接触式测厚仪更，不会因为磨损而损失精度。相对超声波测厚仪精度更高。相对X射线测厚仪没有辐射污染。
坐标测量仪工作原理
在坐标测量技术中，我们需要通过机械的方法建立实际可见的坐标系，然后将测量点用坐标表示方法一一对应，再利用空间几何关系就可以获得所需的各测量值了。例如在坐标测量机中，我们以测量仪器的平台为参考平面建立机械坐标系，采集被测工件表面上的被测点的坐标值，并投射到空间坐标系中，构建工件的空间模型。有了工件的空间模型，坐标测量机就可以计算出所需的几何参数。
